TakeBooks.com TakeBooks.com TakeBooks.com
TakeBooks.com
TakeBooks.com
  Каталог> Знания и навыки> Учебная и научная литература>

Практикумы

TakeBooks.com
TakeBooks.com
 Каталог
:: Java книги
:: Авто
:: Астрология
:: Аудио книги
:: Биографии и Мемуары
:: В мире животных
:: Гуманитарные и общественные науки
:: Детские книги
:: Для взрослых
:: Для детей
:: Дом, дача
:: Журналы
:: Зарубежная литература
:: Знания и навыки
   :Бизнес-книги
   :Компьютерная литература
   :Научно-популярная литература
   :Словари, справочники
   :Учебная и научная литература
     :Безопасность жизнедеятельности
     :Военное дело
     :Гуманитарные и общественные науки
     :Естественные науки
     :Задачники
     :Зарубежная образовательная литература
     :Медицина / здравоохранение
     :Монографии
     :Научные труды
     :Практикумы
     :Прочая образовательная литература
     :Сельское и лесное хозяйство
     :Технические науки
     :Учебники и пособия для вузов
     :Учебники и пособия для ссузов
     :Учебно-методические пособия (методички)
:: Издательские решения
:: Искусство
:: История
:: Компьютеры
:: Кулинария
:: Культура
:: Легкое чтение
:: Медицина и человек
:: Менеджмент
:: Наука и образование
:: Оружие
:: Программирование
:: Психология
:: Психология, мотивация
:: Публицистика и периодические издания
:: Разное
:: Религия
:: Родителям
:: Серьезное чтение
:: Спорт
:: Спорт, здоровье, красота
:: Справочники
:: Техника и конструкции
:: Учебная и научная литература
:: Фен-Шуй
:: Философия
:: Хобби, досуг
:: Художественная лит-ра
:: Эзотерика
:: Экономика и финансы
:: Энциклопедии
:: Юриспруденция и право
:: Языки
 Новинки
Volkswagen Arteon 2017 thru 2021, service e-manual
Volkswagen Arteon 2017 thru 2021, service e-manual
 
 
 Практикумы
    Наименование 
 Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
239155
 Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

 Автор: Дмитрий Крутогин
 Год: 2013

  В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
...
 Основы технологии электронной компонентной базы
239154
 Основы технологии электронной компонентной базы

 Автор: Владимир Астахов
 Год: 2016

  Содержит описание трех практических занятий, в которых изучаются такие процессы создания приборных структур наноэлектроники, как термическое окисление, диффузия и ионная имплантация. Ставит перед собой задачи объяснить физическую сущность используемых в микро- и наноэлектронике технологических процессов, научить комплексному научному подходу к выбору методов и процессов формирования электронной компонентной базы, а также освоить методики расчета
...
 Основы САПР. Машинная графика в технологическом проектировании
239151
 Основы САПР. Машинная графика в технологическом проектировании

 Автор: Анатолий Пятунин
 Год: 2001

  В лабораторном практикуме приведены сведения по геометрическим пострениям для выполнения чертежей в графическом редакторе AutoCAD. Показаны принципы разработки элементной базы, а также модернизации меню Автокада для создания специализированных меню, которые могут применяться в технологической подготовке механосборочного производства. Даны задания для самостоятельной работы студентов по разработке операционных эскизов механической обработки детал
...


 Основы радиационных технологий. Расчет режимов ионной имплантации и профиля распределения имплантированных атомов примеси на примере изготовления кремниевых солнечных элементов n+–p–p+(p+–n–n+)-типа
239149
 Основы радиационных технологий. Расчет режимов ионной имплантации и профиля распределения имплантированных атомов примеси на примере изготовления кремниевых солнечных элементов n+–p–p+(p+–n–n+)-типа

 Автор: Владимир Астахов
 Год: 2007

  В методических указаниях рассматриваются принципы расчета режимов ионной имплантации при формировании структур n+–p–p+(p+–n–n+)-типа и профилей распределения имплантированной примеси. Излагается методика расчета в программе Math Cad 2001.
...
 Основы производства и обработки металлов. Термическая обработка металлов
239142
 Основы производства и обработки металлов. Термическая обработка металлов

 Автор: Владимир Портной
 Год: 2007

  В лабораторном практикуме представлены лабораторные работы по разделу «Термическая обработка металлов», которые знакомят студентов с основами гомогенизации слитков, с вопросами разупрочняющего отжига деформированных сплавов, демонстрируют различие структуры и свойств стали после разных видов фазовой перекристаллизации, закалки и отпуска и показывают возможности упрочняющей термической обработки цветных сплавов.
...
 Основы конструирования приборных устройств
239138
 Основы конструирования приборных устройств

 Автор: Анатолий Веремеевич
 Год: 2001

  В пособии изложены цели и задачи курсового проекта по курсу “Основы конструирования приборных устройств” (в дальнейшем – ОКПУ), приведена тематика заданий по курсовому проектированию, рассмотрены содержание и объем курсового проекта, изложены требования по оформлению графической части и пояснительной записки проекта. Приведены вопросы для подготовки к защите курсового проекта и даны необходимые справочные данные.
...
 Организация эксперимента. Планирование эксперимента в процессах ОМД
239128
 Организация эксперимента. Планирование эксперимента в процессах ОМД

 Автор: Евгений Никитин
 Год: 2003

  Рассмотрена методика планирования эксперимента. Описан порядок выполнения курсовой работы по разделу «Планирование эксперимента» с использованием полного факторного эксперимента 24 и приведен пример выполнения курсовой работы.
...
 Определение параметров полупроводника по температурным зависимостям эдс холла, времени жизни носителей заряда и электропроводности
239123
 Определение параметров полупроводника по температурным зависимостям эдс холла, времени жизни носителей заряда и электропроводности

 Автор: Федор Маняхин
 Год: 2002

  Приведена методика расчета основных параметров полупроводника – ширины запрещенной зоны, энергии ионизации примесных и рекомбинационных центров – по температурным зависимостям ЭДС Холла, времени жизни носителей заряда и электропроводности.
...
 Определение параметров гетероструктур, используемых в оптоэлектронике
239122
 Определение параметров гетероструктур, используемых в оптоэлектронике

 Автор: Геннадий Кузнецов
 Год: 2002

  Практикум состоит из пяти лабораторных работ, выполнение которых позволит получить достаточно полное представление о свойствах гетероструктур, используемых в оптоэлектронике.
...
Показано 442 - 450 (всего 888 позиций)
Страницы: [<< Предыдущая]   [Следующая >>] 
41 42 43 44 45 46 47 48 49 50
Вход 
Если Вы забыли пароль, щелкните здесь





Вы новый клиент?
Зарегистрируйтесь
 
Отзывы 
Верные Враги
Супер классная книга, одна из любимых!Советую почитать! ..
5 из 5 звёзд!
 Информация 
Свяжитесь с нами
Как скачать и чем читать
  Quiero dinero © 2007