Учебная и научная литература
>
Технические науки
>
Радиоэлектроника
>
Электроника
Каталог
:: Java книги
:: Авто
:: Астрология
:: Аудио книги
:: Биографии и Мемуары
:: В мире животных
:: Гуманитарные и общественные науки
:: Детские книги
:: Для взрослых
:: Для детей
:: Дом, дача
:: Журналы
:: Зарубежная литература
:: Знания и навыки
:: Издательские решения
:: Искусство
:: История
:: Компьютеры
:: Кулинария
:: Культура
:: Легкое чтение
:: Медицина и человек
:: Менеджмент
:: Наука и образование
:: Оружие
:: Программирование
:: Психология
:: Психология, мотивация
:: Публицистика и периодические издания
:: Разное
:: Религия
:: Родителям
:: Серьезное чтение
:: Спорт
:: Спорт, здоровье, красота
:: Справочники
:: Техника и конструкции
:: Учебная и научная литература
:Гуманитарные и общественные науки
:Естественные науки
:Технические науки
:Горное дело
:Пищевая промышленность
:Радиоэлектроника
:Автоматика и телемеханика
:Квантовая электроника
:Кибернетика
:Радиолокация
:Радиотехника
:Электрическая связь
:Электроакустика
:Электроника
:Строительство
:Технологии металлов
:Транспорт
:Химическая технология
:Энергетика
:: Фен-Шуй
:: Философия
:: Хобби, досуг
:: Художественная лит-ра
:: Эзотерика
:: Экономика и финансы
:: Энциклопедии
:: Юриспруденция и право
:: Языки
Новинки
Ford Maverick since 2022, service e-manual
Semiconductor Material and Device Characterization
Автор:
Dieter Schroder K.
Издательство:
John Wiley & Sons Limited
Cтраниц:
1
Формат:
PDF
Размер:
0
ISBN:
9780471749080
Качество:
excellent
Язык:
Описание:
This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers. Not only does the Third Edition set forth all the latest measurement techniques, but it also examines new interpretations and new applications of existing techniques. Semiconductor Material and Device Characterization remains the sole text dedicated to characterization techniques for measuring semiconductor materials and devices. Coverage includes the full range of electrical and optical characterization methods, including the more specialized chemical and physical techniques. Readers familiar with the previous two editions will discover a thoroughly revised and updated Third Edition, including: Updated and revised figures and examples reflecting the most current data and information 260 new references offering access to the latest research and discussions in specialized topics New problems and review questions at the end of each chapter to test readers' understanding of the material In addition, readers will find fully updated and revised sections in each chapter. Plus, two new chapters have been added: Charge-Based and Probe Characterization introduces charge-based measurement and Kelvin probes. This chapter also examines probe-based measurements, including scanning capacitance, scanning Kelvin force, scanning spreading resistance, and ballistic electron emission microscopy. Reliability and Failure Analysis examines failure times and distribution functions, and discusses electromigration, hot carriers, gate oxide integrity, negative bias temperature instability, stress-induced leakage current, and electrostatic discharge. Written by an internationally recognized authority in the field, Semiconductor Material and Device Characterization remains essential reading for graduate students as well as for professionals working in the field of semiconductor devices and materials. An Instructor's Manual presenting detailed solutions to all the problems in the book is available from the Wiley editorial department.
Скачать
Скачать легальную копию
Просмотров: 48
Пресс - релиз
string(4) "true" int(290)
К настоящему времени нет отзывов!
Вход
Если Вы забыли пароль, щелкните
здесь
Вы новый клиент?
Зарегистрируйтесь
Информация
Свяжитесь с нами
Как скачать и чем читать
Quiero dinero © 2007
