Учебная и научная литература
>
Технические науки
>
Радиоэлектроника
>
Электроника
Каталог
:: Java книги
:: Авто
:: Астрология
:: Аудио книги
:: Биографии и Мемуары
:: В мире животных
:: Гуманитарные и общественные науки
:: Детские книги
:: Для взрослых
:: Для детей
:: Дом, дача
:: Журналы
:: Зарубежная литература
:: Знания и навыки
:: Издательские решения
:: Искусство
:: История
:: Компьютеры
:: Кулинария
:: Культура
:: Легкое чтение
:: Медицина и человек
:: Менеджмент
:: Наука и образование
:: Оружие
:: Программирование
:: Психология
:: Психология, мотивация
:: Публицистика и периодические издания
:: Разное
:: Религия
:: Родителям
:: Серьезное чтение
:: Спорт
:: Спорт, здоровье, красота
:: Справочники
:: Техника и конструкции
:: Учебная и научная литература
:Гуманитарные и общественные науки
:Естественные науки
:Технические науки
:Горное дело
:Пищевая промышленность
:Радиоэлектроника
:Автоматика и телемеханика
:Квантовая электроника
:Кибернетика
:Радиолокация
:Радиотехника
:Электрическая связь
:Электроакустика
:Электроника
:Строительство
:Технологии металлов
:Транспорт
:Химическая технология
:Энергетика
:: Фен-Шуй
:: Философия
:: Хобби, досуг
:: Художественная лит-ра
:: Эзотерика
:: Экономика и финансы
:: Энциклопедии
:: Юриспруденция и право
:: Языки
Новинки
Engines Cummins L10, service e-manual
Digital Logic Testing and Simulation
Автор:
Alexander Miczo
Издательство:
John Wiley & Sons Limited
Cтраниц:
1
Формат:
PDF
Размер:
0
ISBN:
9780471457770
Качество:
excellent
Язык:
Описание:
Your road map for meeting today's digital testing challenges Today, digital logic devices are common in products that impact public safety, including applications in transportation and human implants. Accurate testing has become more critical to reliability, safety, and the bottom line. Yet, as digital systems become more ubiquitous and complex, the challenge of testing them has become more difficult. As one development group designing a RISC stated, «the work required to . . . test a chip of this size approached the amount of effort required to design it.» A valued reference for nearly two decades, Digital Logic Testing and Simulation has been significantly revised and updated for designers and test engineers who must meet this challenge. There is no single solution to the testing problem. Organized in an easy-to-follow, sequential format, this Second Edition familiarizes the reader with the many different strategies for testing and their applications, and assesses the strengths and weaknesses of the various approaches. The book reviews the building blocks of a successful testing strategy and guides the reader on choosing the best solution for a particular application. Digital Logic Testing and Simulation, Second Edition covers such key topics as: * Binary Decision Diagrams (BDDs) and cycle-based simulation * Tester architectures/Standard Test Interface Language (STIL) * Practical algorithms written in a Hardware Design Language (HDL) * Fault tolerance * Behavioral Automatic Test Pattern Generation (ATPG) * The development of the Test Design Expert (TDX), the many obstacles encountered and lessons learned in creating this novel testing approach Up-to-date and comprehensive, Digital Logic Testing and Simulation is an important resource for anyone charged with pinpointing faulty products and assuring quality, safety, and profitability.
Скачать
Скачать легальную копию
Просмотров: 51
Пресс - релиз
string(4) "true" int(290)
К настоящему времени нет отзывов!
Вход
Если Вы забыли пароль, щелкните
здесь
Вы новый клиент?
Зарегистрируйтесь
Информация
Свяжитесь с нами
Как скачать и чем читать
Quiero dinero © 2007
